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고속 디지털 I/O

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  • 프로그램 가능한 전압 레벨(-2.0 ~ 5.5 V), 5 V TTL/CMOS 또는 LVDS
  • 디지털 웨이브폼을 생성, 반입 및 편집하는 NI Digital Waveform Editor
  • 최고 400 Mb/s 데이터 속도
  • 수집한 데이터, 생성된 데이터 및 반출된 샘플 클럭의 위상 전환
  • LabVIEW, LabWindows/CVI, C/C++ 및 Measurement Studio와의 우수한 통합
  • 채널당 최대 128 Mb 온보드 메모리(총 256 MB)

NI 고속 웨이브폼 생성기/분석기는 최신 프로토콜에 인터페이스, 자극-응답 테스트 수행 또는 디바이스 비트 에러 속도 측정과 같은 다양한 범위의 디지털 어플리케이션에 대한 유연한 솔루션을 제공합니다. 최신 NI 디지털 보드는 최대 200 MHz 클럭 속도와 최신 2배 데이터 속도(DDR) 기술을 통해 채널당 최대 400 Mb/s의 데이터 속도를 구현합니다.

NI 디지털 제품으로 표준 디바이스용 5 V TTL/CMOS 로직 레벨, 독점 디바이스용 사용자 전압 레벨(-2.0 to 5.5 V) 또는 최신 LVDS 디지털 전자기기와의 호환성이 요구되는 어플리케이션을 실행할 수 있습니다. 대용량 온보드 메모리가 있을 경우 온보드 FPGA 하드웨어를 사용하여 복잡한 패턴을 링크하고 루프할 수 있습니다. NI 고속 디지털 디바이스를 서브나노초 레벨에서 다른 측정 디바이스와 동기화하여 채널이 많은 고성능 디지털이나 혼합 신호 프로토타입 및 테스트 시스템을 설계할 수 있습니다.

싸이클당, 채널당 양방향 컨트롤 및 신속한 하드웨어 비교와 같은 새 디지털 ATE 기능은 최신 NI-HSDIO 드라이버가 장착된 NI 6552와 NI 6551 디지털 웨이브폼 생성기/분석기에서 사용 가능합니다. 이 같은 자극-응답 인스트루먼트는 메모리 칩의 기능 테스트에서 I2C 버스의 양방향 통신 어플리케이션에 대한 확장 가능한 개방형 솔루션을 제공합니다.