NI PXIワイヤレスIC（RFIC）テストシステムに含まれる主要なモジュールによって、電力増幅器、トランシーバ、IF受信機、RFフロントエンド、変調器/復調器などのRFICデバイスの完全な特性評価を行えます。システムに含まれる6.6 GHzベクトル信号アナライザ（VSA）および6.6 GHzベクトル信号発生器（VSG）は一般的なRF規格（ZigBee、WLAN、WiMAXなど）を集録または生成し、ソースメジャーユニット（SMU）は一般的なDCパラメータ計測（解放/短絡、リークテスト）を行い、高速デジタルI/Oは一般的な通信プロトコル（SPI、I2C、JTAG）でデジタルベースバンドを集録または生成、あるいはRFICのテストモードを制御し、オプションはデジタイザ、クロックソース、パワーメータなどのRF装置を追加してニーズを満たします。
NI PXIワイヤレスIC（RFIC）テストシステムソリューションは、エラーベクトル振幅（EVM）、キャリアリーク、周波数オフセットといったRFICデバイスの一般的な計測を行い、カスタム変調方式（AM、FM、PM、ASK、FSK、MSK、GMSK、PSK、QPSK、PAM、QAM）を作成するのに必要な機器が含まれています。NI LabVIEWソフトウェアと組み合わせれば、このソリューションはシステムを迅速にカスタマイズして、ワイヤレスICの特性評価に必要な専門的な計測を行うことができます。設計の特性評価に欠かせない一般的な計測を行うためのサンプルプログラムはあらかじめNIのシステムエンジニアによって作成されているため、すばやく計測を開始することができます。
