- 2チャンネルもしくは8チャンネルのアナログ入力搭載、16ビット、200 kS/秒
- PXIバックプレーンを使用してデバイスの自動同期が可能
- 統合信号調節により、±100 V入力もしくは歪み/ブリッジ入力が可能
- NISTトレーサブルな校正証明書の提供
- プログラム可能なゲインおよびフィルタ設定
- NI-DAQドライバソフトウェアにより、デバイス構成や自動コード生成が可能
ナショナルインスツルメンツのPXI-4220は高速歪み計測、PXI-4204は最大100 Vの電圧計測が可能です。NI PXI-4220は高速での構造テストに、そしてNI PXI-4204は42 V対応が必要な自動車アプリケーションに最適です。 両モジュールとも、内蔵信号調節を採用しているため、センサや高電圧信号を直接計測することが可能です。 つまり、通常のデータ集録デバイス以上の機能を搭載した優れたモジュールです。 このデバイスは、プログラム可能なゲインやフィルタ設定により、高計測確度を実現し、優れたソフトウェア統合を提供します。また、受賞経歴を持つ質の高いサポートとサービスが受けられます。 このPXI-4220およびPXI-4204は、PXIトリガバスを使用しているため、複数のモジュールを同期させることが可能です。 多チャンネルシステムもしくは低速でもよい集録の場合には、 SCXIもしくはSCC信号調節をご検討ください。
|
