- Pattern I/O, I/O di tipo handshake e rilevamento del cambio di stato
- Espansione e sincronizzazione su più dispositivi per i sistemi con numero elevato di canali
- Velocità dei dati massima di 400 Mb/s
- Trasmissione dati ad alta velocità con PCI Express e PXI Express
- Livelli di logica LVDS o TTL/CMOS o tensione programmabile
I dispositivi I/O digitali ad alta velocità di National Instruments includono funzioni avanzate di interfaccia e test per i sistemi digitali e a segnale misto. Gli strumenti digitali basati su PC permettono di configurare sistemi di test avanzati e flessibili per diversi tipi di applicazioni come l'analisi di protocolli di comunicazione personalizzati e test funzionali di fine linea. Gli strumenti digitali NI ad alta velocità includono funzioni avanzate di test come la validazione dati su scheda e trasmissione dedicata di dati attraverso un'interfaccia PCI Express e includono livelli di tensione programmabili e memoria estesa su scheda.
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