- Velocidades de muestreo tan altas como 2 GHz con 1 GHz de ancho de banda y resoluciones flexibles hasta 24 bits
- Analizadores y generadores de señales vectoriales (VSAs/VSGs) de 6.6 GHz con software para múltiples estándares de RF
- E/S digital hasta 200 MHz con varios niveles de voltaje para generación/adquisición de patrones
- Capacidad de fuente/medida de ±20 V, 2 A para medidas paramétricas hasta 1 nA de sensibilidad
- Varias opciones de conmutación para enrutar instrumentación de DC a múltiples puntos de pruebas
- Control de la operación del chip a través de protocolos digitales comunes incluyendo SPI, I2C y JTAG
National Instruments ofrece una variedad de productos para diseñar sistemas de pruebas de semiconductores usados en entornos de validación, caracterización y producción. La plataforma de PXI proporciona un sistema de pruebas compacto sin huellas que consiste en instrumentos modulares con tecnologías de temporización y sincronización para medidas desde DC a 6.6 GHz.
Con más de 1,500 módulos ofrecidos por más de 70 proveedores, la instrumentación PXI es ideal para dispositivos de pruebas de semiconductores incluyendo convertidores analógico-digitales (ADCs), convertidores digitales-analógicos (DACs), ICs de administración de potencia (PMICs), ICs inalámbricos (RFICs), dispositivos micro-eléctrico-mecánicos (MEMs) y componentes discretos.
Visite los enlaces a continuación para aprender más sobre cómo los productos de National Instruments son usados para pruebas de semiconductores o vea sistemas PXI diseñados para probar diferentes tipos de chips.
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