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Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Module

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  • Maximaler Onboard-Speicher von 128 Mbit pro Kanal (256 MB insgesamt)
  • Phasenverschiebung der erfassten und erzeugten Daten sowie des exportierten Abtasttakts einstellbar
  • Programmierbare Spannungspegel (-2,0 bis 5,5 V), 5 V TTL/CMOS oder LVDS
  • NI Digital Waveform Editor zum Erstellen und Bearbeiten digitaler Signale
  • Maximale Datenrate von 400 Mbit/s in DDR-Modus mit maximalem Takt von 200 MHz
  • Nahtlose Integration in LabVIEW, LabWindows/CVI, C/C++ und Measurement Studio

National Instruments bietet eine große Auswahl an Hochgeschwindigkeits-Digitalmodulen für Anwendungen in den Bereichen Kommunikation, Gerätesimulation und anspruchsvolle Stimulus-Antwort-Tests. Die Hochgeschwindigkeits-Digitalsignalgeneratoren/-analysatoren NI 6561 und NI 6562 bieten maximale Taktraten von 100 bzw. 200 MHz. Mithilfe der DDR-Technologie lassen sich Daten kanalweise mit Raten von 200 bzw. 400 Mbit/s erzeugen und erfassen.

Die Digitalmodule NI 655x und NI 654x verfügen über maximale Taktraten von 100 MHz. Sie sind mit zahlreichen Logikfamilien kompatibel und ermöglichen die Erstellung flexibler Prüfsysteme. Mit den NI-655x-Geräten lassen sich Spannungspegel von -2,0 bis 5,5 V mit einer Auflösung von 10 mV programmatisch festlegen. Die NI-655x-Geräte umfassen verschiedene ATE-Funktionen, u. a. takt- und kanalweise bidirektionale Steuerung sowie Echtzeitvergleich von erwarteten Ergebnissen mit erfassten Daten.

Die Karten der Serie NI 635x für Mustererkennung und Handshaking verfügen über eine maximale Taktrate von 20 MHz mit 5-V-TTL/CMOS-Pegeln. Alle Hochgeschwindigkeits-Digitalmodule von National Instruments können einzeln oder mit anderen Messgeräten verwendet werden, um leistungsstarke Systeme mit Digital- oder gemischten Signalen und hoher Kanalanzahl zu erstellen.