改变工程师命运—-图形化的测试测量与控制系统设计
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。 借助革新式的图形化系统设计,以及软硬件的无缝连接等特点,在显著减少系统构建时间和成本的同时,带来灵活与自定义的测控应用。 · 自动化测试测量领域发展的趋势 -20多年测试测量领域的发展历史 -细数当今主流的测试测量发展趋势 -如何实现测试应用的成功 -控制设计的考虑因素 -如何实现高效的控制应用
涉及的产品/应用/演示包括: · LabVIEW软件,PXI/PXI Express平台,CompactRIO平台 · 数据采集(DAQ)产品家族,模块化仪器,Singleboard RIO · 请访问 www.ni.com/china
|