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改变工程师命运—-图形化的测试测量与控制系统设计


美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。 借助革新式的图形化系统设计,以及软硬件的无缝连接等特点,在显著减少系统构建时间和成本的同时,带来灵活与自定义的测控应用。 
本场研讨会,NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术,帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
与此同时,在研讨会中,NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示,帮助您更好地理解NI各类软硬件产品的强大功能! 

 
您将通过本次研讨会了解到:

· 自动化测试测量领域发展的趋势

    -20多年测试测量领域的发展历史

    -细数当今主流的测试测量发展趋势

    -如何实现测试应用的成功

· 
控制与测试相结合应用

    -控制设计的考虑因素

    -如何实现高效的控制应用 

· 总结

 

涉及的产品/应用/演示包括:

· LabVIEW软件,PXI/PXI Express平台,CompactRIO平台

· 数据采集(DAQ)产品家族,模块化仪器,Singleboard RIO


用户案例介绍:

· 更多信息或免费下载LabVIEW用户评估版及相关技术资源

· 请访问  www.ni.com/china

· 点击查看NI更多研讨会 

 

 

 

 



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