Academic Company Events NI Developer Zone Support Solutions Products & Services Contact NI MyNI

Customer Solutions

Automatiserat testsystem på ABB Automation Products AB

Author(s):

Michael Gunnarsson, ABB, HiTest AB

Industry:

Electronics

Product:

LabVIEW, NI TestStand

The Challenge:

Att bygga ett datorbaserat automatiskt testsystem för att verifiera produkterna enligt gällande testspecifikationer. Testtiden skulle reduceras från tre veckor till en-två dagar och systemet skulle byggas med kommersiellt utvecklade produkter.

The Solution:

Ett PXI-baserat system kontrollerat av TestStand och LabVIEW.


Introduktion
ABB är världens ledande leverantör av elektrisk utrustning. ABB Automation Products AB levererar bl.a produkter för att skydda människor och egendom.

Systemet
Testobjektet är ett mikrodatorbaserat reläskydd. Det består av en komplex uppsättning inbyggda skyddsfunktioner såsom impedans- och överströmsskydd. Parametrar för dessa skyddsfunktioner överförs från LabVIEW via serieporten. Testsystemet som är byggt kring TestStand styr och mäter sedan alla skyddsfunktioner på reläskyddet för att verifiera att specifikationerna hålls. Testsekvenserna är uppbyggda med scripts som förenklar framtagning av nya prov. Det enda som då behövs är en texteditor för att redigera indata.

Mjukvara
• LabVIEW 6i (med GOOP-implementation) för WinNT
• TestStand för WinNT

Hårdvara
• PXI-1000B chassi (8-slots chassi)
• PXI-PCI-8335 (MXI-3 länk)
• PXI-6071E (multifunktions I/O)
• PXI-2565 (reläbaserad switch)
• PXI-2503 (reläbaserad switch)
• PXI-8420 (4 serieportar)
• Omicron Generator CMC-256 EP

Utvecklingsprocessen
För att göra LabVIEW-applikationen mer underhållsvänlig användes GOOP (Graphical Object Oriented Programming) som utvecklingsmetodik. Detta underlättade även arbetet under utvecklingsfasen eftersom terminologin i LabVIEW-koden och i allmänt bruk på ABB Automation Products AB överensstämmer. För att kunna exekvera programmet utan inkopplad hårdvara togs en simuleringsmod fram, vilket bland annat förenklar utveckling av nya testfall. Det finns ett grafiskt användargränssnitt (GUI) för att hantera I/O i systemet. I detta projekt har principen varit att generatorn genererar stimuli till UUT (Unit Under Test) och PXI mäter tillbaka svaren från UUT. Den enda möjligheten att styra Omicron-generatorn var via ett ActiveX-gränssnitt, vilket gick mycket smidigt att kontrollera från LabVIEW. Mjukvaran är uppdelad i flera lager, vilket underlättar framtagandet av nya användargränssnitt eller ny funktionalitet. APP-lagret består av de applikationsrelaterade delarna vilka betecknas som objekt i systemets APP-lager. Lagret som hanterar hårdvaran kallas för Hardware Abstraction Layer (HAL), ej att förväxlas med HAL i WinNT. HAL består av objekt såsom analog I/O, digital I/O och generatorn. Bilden på nästa sida beskriver anropshierarkin.

Resultat
TestStand används för att administrera och exekvera testsekvenserna som är byggda i LabVIEW.
Kunden är mycket nöjd med detta system eftersom:
• aktiv testtid utökats tre gånger, från åtta till 24 timmar per dygn
• testtiden har blivit MINST tio gånger snabbare än förut
• manuell testning av produkten har automatiserats
• komplett omtestning möjliggörs även vid små ändringar av mjukvaran i testobjektet
• testerna blir repetetiva
• kvalitetsnivån blir väldefinierad
• testresultatet blir personoberoende
• tid lösgörs hos nyckelpersoner
• testorganisationen minskas

För mer information kontakta:

Michael Gunnarsson

HiTest AB Stavhoppargatan

7 722 41 Västerås

Tel: 070-208 99 65

E-mail: michael.gunnarsson@hitest.se

View the PDF
361761a01.pdf

View the entire user solution in Adobe Acrobat PDF format.