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수성기전 - Line-Scan Camera와 NI PCIe-1429를 활용한 Micrometer 제품 치수 측정
1. 기존 접촉식 측정 방식을 사용할 경우, 측정 Probe 압력에 따른 Micrometer 치수 오차 발생, 2. 다양한 제품 사이즈에 대한 치수 측정 정도 확보 (Max =￠250mm), 3. 제품당 수십 개의 Sample Point 측정 개수를 2,000개 Sample Point 측정 방식으로 개선, 4. 2,000개 Sample Point를 활용한 진원도 측정, 5. 수동이송에 따른 고무 제품의 치수 변화 요인 개선, 6. 검사 시스템 비용 절감
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(주)대성엘텍 - NI 비전 및 DAQ 카드를 이용한 유저 검사 자동화
불량 유출을 방지하기 위하여 100% 작업자 위주의 검사에서 설비 검사로 전환시키고자 하였다.
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(주)나인원 - FPGA 기반의 EEFL 테스터 개발
외부 전극 형광 램프를 나타내는 EEFL(External Electrode Fluorescent Lamp)은 제조 공정상의 여러 가지 오차로 인해 각 특성의 차이를 보인다. 각 램프는 일정 전압에서 정상적으로 켜져야 하고 밝기 또한 일정한 특성을 보여야 하기 때문에 규격의 범주에 드는 양품을 선별 할 수가 있는 표준적인 검사 시스템이 필요하다.
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계명대학교 - 수동변속기 차량의 클러치 개발 시험을 위한 DATA 계측 및 분석 시스템 개발
수동 변속기 차량의 클러치 개발 시험으로서, 열용량 및 NVH 시험 및 다양한 실차 평가가 하나의 시스템에서 구현될 수 있는 범용 실차 계측 시스템을 개발하고자 하였다.
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Banco de prueba IOLT
Diseñar y construir un banco de prueba de vida para 10 reguladores de voltaje automotriz en forma simultánea aplicando temperaturas desde -40 hasta 150 grados Celsius.
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以 NI CompactRIO測試高動態燃料電池
設計全新的燃料電池測試系統，其速度必須高於常見的市售系統，擁有 24/7作業安全性，不需依賴 Windows 作業系統的電腦，可獨立於多台電腦之間接收、傳送資料，可平行執行多項模擬與指令碼，甚至可於不同機器中執行作業。
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ELBATECH 公司的客制化 AFM 設計服務：SPMagic
目前原子力顯微術 (Atomic Force Microscopy，AFM) 系統的市場，開始提供一般用途的設備。但即便常見的檢測技術，卻仍需要至少 10 萬歐元的入門成本。此應用即是為了能降低門檻成本，讓市場能夠接納更多的低價位儀器。
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Supreme Electrical Services 公司使用 LabVIEW 與 NI RIO 技術，建構油井幫浦的監控與分析解決方案
建立進階監控系統，可直接固定於嚴苛環境中的油井幫浦之上，並能進一步分析感測器所傳送的資料。
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순천향대 - LabVIEW를 사용한 지능형 잉크 토출 평가 시스템
메니스커스 운동 측정 등의 토출 현상을 규명을 통한 잉크 제팅(Jetting) 상태 자체 진단 기능을 갖는 인공지능형 시스템을 개발한다.
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나인원 - FPGA 기반의 무인자동차 개발
실질적인 무인 자동화로 가기 전에 주행이나 조향 능력을 검증할 수 있는 리모트 컨트롤 자동차 개발이 선결 과제였다.
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