|
致揚科技利用DAQ卡完成各種儀器之客製化控制
本公司以光電/半導體設備電子模組及真空系統相關之銷售及維修為主。因此，面對各種不同的設備和儀器，如何能在短時間內快速有效的達成與機器的通訊控制即是主要的課題。
|
|
NI TestStand 為德州儀器 (Texas Instruments，TI) 創造 40 億美金的收益
針對日趨複雜的無線與 RF 裝置設計環境，塑造出德州儀器 (Texas Instruments，TI) 的開發特色。
|
|
Realisation of ATE – LASAR Translator using PXI Architecture and TestStand
Developing a low-cost digital test system with an open architecture that has the ability to leverage test procedures already created for traditional digital testers
|
|
TestStand et LabVIEW réduisent le temps de caractérisation des circuits intégrés hautes performances chez ATMEL
The Solution: Mettre en place une station de test automatisée à l’aide du séquenceur TestStand, de LabVIEW et de fiches de test.
|
|
LabVIEW : communication avec un microcontrôleur Motorola/Freescale et banc de test "universel"
Tester avec LabVIEW des cartes mixant des parties analogiques et numériques.
|
|
Contrôle et automatisation d'une chaîne de production de capteurs de pression avec LabWindows/CVI chez Fuji Electric
The Solution: Mettre en place des bancs de test réalisés avec LabWindows/CVI et le SQL Toolkit pour communiquer avec une base de données.
|
|
Un groupe de recherche crée un système flexible et haute vitesse à signaux mixtes pour le test des fonctions et des performances sur tranches de semiconducteurs
Développer une plate-forme de mesure de signaux mixtes personnalisée capable de gérer plusieurs alimentations ainsi que des signaux numériques et analogiques haute vitesse pour la mesure de prototypes de circuits directement sur tranches.
|
|
STMicroelectronics valide ses circuits intégrés à signaux mixtes avec l’instrumentation modulaire sur PXI
Optimiser le processus de validation et de caractérisation de STMicroelectronics face à la complexité croissante des circuits intégrés (CI) en environnement global.
|
|
布魯塞爾自由大學 (Vrije Universiteit Brussel，VUB) 使用 NI LabVIEW 與 PXI 模組化儀器，進行自動化晶片的特性記述 (Characterization) 與校準
開發彈性的測試系統，使之於多種條件下可自動特性記述 (Characterize) 其內建電路。
|
|
校際微電子研究中心 (Interuniversity Microelectronics Centre，IMEC) 研究小組建立彈性且高速的混合訊號系統，以直接測試 (On-Wafer) 晶圓的功能與效能
開發客制的混合訊號量測平台，以容納多重電源供應與高速數位/類比訊號，並進一步用於晶圓裝置與原型製作電路的直接 (On-Wafer) 量測。
|
