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Managing Multiple Types of DSP Processors Using NI TestStand
Developing a test solution that combines structural and functional tests and delivers high throughput, real-time test results, and data upload into MfG/PRO/Oracle to support multiple families of DSP processor modules.
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NI PXI-6552を駆使した高速ICテスターの開発
①セットアップ・ホールドタイム試験機能の実現②ファンクション試験機能の実現③高速かつ大量なデータパターンの出力機能の実現④DCパラメータの試験機能の実現
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서울대학교 - 코팅의 건조 스트레스 측정 장비 제작
디스플레이가 더욱 대면적화, 박막화 되는 동시에 생산성 향상에 따른 가격 경쟁력을 강화하기 위해서는 넓은 면적을 더욱 얇고 빠르게 코팅하는 기술이 요구되고 있다.
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매그나칩반도체 - CMOS 이미지 센서 테스트 장비
현재의 이미지 테스트 및 이미지 센서 검증 시 ISA 또는 USB2,0을 사용하여 Pixel, Analog, ISP Function 및 특성을 분석하고 있다. 보다 안정적이고 호환성이 뛰어난 시스템 솔루션 확보 및 향후 양산을 위한 시스템 확보가 필요하게 되었다.
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University of Virginia - LabVIEW와 머신 비전 및 모션을 이용한 실리콘 웨이퍼 측정 자동화 시스템 구현
전동식 스테이지를 제어하고 적외선 이미지 및 웨이퍼 두께 데이터를 저장할 수 있는 비파괴 실리콘 웨이퍼 측정 시스템을 개발해야 합니다.
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㈜에이렉스 - 반도체 제조 공정용 장비 Controller개발
수백번)를 처리 할 수 있어야 한다.
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MPT - 웨이퍼 스크라이버를 구축하기 위해 모션 및 비전 솔루션을 제공하는 NI 플랫폼 적용
최소한의 엔지니어링 지원을 필요로 하는 고도로 자동화된 웨이퍼 스크라이버의 개발
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㈜한백 - LabVIEW와 PXI를 이용한 MOCVD Process Automation
GaN(Gallium Nitride)용 MOCVD를 생산하고있는 한백은 MOCVD process automation을 위해 기존의 경쟁업체에서 사용하고있는 PLC-based system보다 경제적이고, 유연하며, 보다 빠른 개발시간을 위해 PC-based system을 채택했다.
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明新科技大學光電系使用NI產品開發LED多物理特性動態量測系統
LED是光電元件，而其光電特性又會明顯地受溫度所影響。但是環顧現有市場上的LED量測設備，皆僅能單純地量測LED的電性、光性或電性以及熱特性，目前並未有完整的多物理量的整合性量測系統。
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基于虚拟仪器技术的激光接收器测试系统
激光接收器为光学—电子部件，该部件的光学和光电性能必须进行严格的定量测试和分析，才能确保产品的质量,并为研究新产品获得可靠的实验依据。
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