EDA工業公司使用 PXI 與 LabVIEW為國防系統設計高速數位測試 開發擁有開放式架構的高通道數數位測試系統，該系統可以利用為傳統數位儀器所創建的現有數位測試型樣
明新科技大學光電系使用NI產品開發LED多物理特性動態量測系統 LED是光電元件，而其光電特性又會明顯地受溫度所影響。但是環顧現有市場上的LED量測設備，皆僅能單純地量測LED的電性、光性或電性以及熱特性，目前並未有完整的多物理量的整合性量測系統。
布魯塞爾自由大學 (Vrije Universiteit Brussel，VUB) 使用 NI LabVIEW 與 PXI 模組化儀器，進行自動化晶片的特性記述 (Characterization) 與校準 開發彈性的測試系統，使之於多種條件下可自動特性記述 (Characterize) 其內建電路。
校際微電子研究中心 (Interuniversity Microelectronics Centre，IMEC) 研究小組建立彈性且高速的混合訊號系統，以直接測試 (On-Wafer) 晶圓的功能與效能 開發客制的混合訊號量測平台，以容納多重電源供應與高速數位/類比訊號，並進一步用於晶圓裝置與原型製作電路的直接 (On-Wafer) 量測。
