ST-Ericsson社、LabVIEWとPXI RF計測器を用いてICのテスト時間を1/10に短縮

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"ナショナルインスツルメンツ(NI)のPXIシステムを採用したことにより、IC製品のテスト時間を従来のソリューションの1/10に、コストを1/3に削減することができました。PXIプラットフォームは、あらゆるデジタル規格とRF規格に適応可能な柔軟性を備えています"

- Sylvain Bertrand, ST-Ericsson

The Challenge:
IC製品のテストに、さまざまなRF規格に対応可能で柔軟性に優れた検証/テスト用ソリューションを採用することにより、特性評価用のラボをアップグレードする。

The Solution:
大型かつ高価で、柔軟性に欠けるボックス型計測器の代わりに、ソフトウェアによる定義が可能なNI PXIプラットフォームを使用する。

Author(s):
Sylvain Bertrand - ST-Ericsson

当社(ST-Ericsson社)は、スマートホンやタブレット端末向けの製品開発で業界をリードするICベンダーです。携帯電話端末/タブレット端末で使用されているRFコンポーネントやプラットフォームの検証とテストを実施する開発/テストセンターを世界に展開するほか、特性評価を行うためのラボを複数構えています。通常、携帯電話端末やタブレット端末で使用されているプラットフォームは、GPSやBluetooth、3G/4Gなど複数の無線規格をサポートします。そのため、プラットフォームのテストでは、1セットで約80万回にも上る計測を実行しなければなりません。

当社が開発するICは、非常に複雑なものです。そのため、さまざまなRF規格に対応できるだけの十分な柔軟性を備えるとともに、非常に厳格なテストが行えるだけの高い性能を有するプラットフォームが不可欠です。ICとのインタフェースを確保するためだけにも、複数の標準プロトコルやカスタムのデジタルプロトコルが必要になります。しかし、RF信号アナライザやRF信号発生器、デジタルパターン発生器といった従来のボックス型計測器は、当社で使用するソリューションとしてはサイズが大きすぎます。また費用がかかりすぎることに加え、十分な柔軟性を確保することもできません。

そこで、当社のテストエンジニアは、従来のボックス型計測器の代わりに、PXIプラットフォームを採用することにしました。また、SPI(Serial Peripheral Interface)やI2Cなどのさまざまなデジタル規格に対応した通信が行えるようにするために、NI FlexRIOを採用しました。デジタルアダプタモジュールが入手できなかったときでも、開発チームはアダプタを短時間で自作することができたので、PCに対するバックエンドや、FPGAとの通信について心配する必要はありませんでした。また、RFテストには高性能のベクトル信号アナライザであるNI PXIe-5665を採用しました。この製品は、ソフトウェアによる定義が行えることに加え、あらゆる無線規格に対応するNI LabVIEWツールキットとともに使用することが可能です。

               

コスト

  従来のソリューション PXI ソリューション 従来のソリューションに対する削減率
RF 信号アナライザ + ソフトウェア 9万8000米ドル 3万4999米ドル 1/2.8
RF 信号発生器 + ソフトウェア 9万4000米ドル 2万8999米ドル 1/3.2
総コスト 19万2000米ドル 6万4000米ドル 1/3

 

テスト時間

  従来のソリューション PXI ソリューション 従来のソリューションに対する改善率
WCDMAのACP(隣接チャンネル漏洩電力)  400 ミリ秒 30 ミリ秒 1/15
LTEのEVM(エラーベクトル振幅) 1.2 秒 390 ミリ秒 1/3
総テスト時間(80万回の計測) 3 日 8 時間 1/10

 

PXIシステムを採用した結果、テスト時間を従来のソリューションの1/10に短縮できました。また、コストは1/3に削減することができました。しかも、PXIプラットフォームは、あらゆるデジタル規格とRF規格に適応可能な柔軟性も備えているのです。

Author Information:
Sylvain Bertrand
ST-Ericsson
United States

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