ナノ/マイクロ形状のための座標測定システム

  Print Print

"システムを約5ヶ月で作ることが出来、加えて、LabVIEWでのプログラム変更もスムーズに行え、結果、多くの実験を通して、完全自動で形状計測をすることが可能になった。"

- 道畑 正岐 氏, 大阪大学

The Challenge:
ナノプローブ統合座標測定システムを構築するにあたり、必要とされる計測システムの仕様は次の通り:

  1. 10kHz、16bitで2ch同時アナログ信号出力
  2. 10kHz、16bitで6ch同時アナログ信号サンプリング
  3. CCD像のアナログ入力
  4. 1Hzで4チャンネルでの温度計測 計測システムを構築するため、 上記にに加え、ステージ信号32bitバイナリ信号入力を加えた5つの信号を同一プラットフォームで処理
  5. 開発期間半年

The Solution:
システム全体を統括するアプリケーションにLabVIEWを、その他、NI製画像集録ボード(PCI-1405)や、高速アナログ出力ボード(PCI-6731)、ダイナミック信号集録ボード(PCI-4472)等を用いて実現した。

Author(s):
道畑 正岐 氏 - 大阪大学

Bookmark and Share


Explore the NI Developer Community

Discover and collaborate on the latest example code and tutorials with a worldwide community of engineers and scientists.

‌Check‌ out‌ the‌ NI‌ Community


Who is National Instruments?

National Instruments provides a graphical system design platform for test, control, and embedded design applications that is transforming the way engineers and scientists design, prototype, and deploy systems.

‌Learn‌ more‌ about‌ NI