Tektronix社がNI TestStandを使ってコンプライアンステストを効率化
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Author(s):
Jit Lim氏 - Tektronix社
Industry:
ATE/Instrumentation
Products:
TestStand
The Challenge:
コンプライアンステストを簡素化し試験時間を短縮するフレームワークの設計
The Solution:
NI TestStandを使用して、全ての適合条件に対応するとともに試験時間を70％削減できる自動テストシステム「TekExpressコンプライアンス・テスト・オートメーション・フレームワーク」と「TekExpress SATA自動コンプライアンス・テスト・ソフトウェア」を構築
"オープンプラットフォームのNI TestStandを使用して、見た目も使い勝手もTektronix独自のユーザインタフェースを開発しました。"
PCI Express、XAUI、RapidIO、HDMI、SATAなど多くのシリアルデータバスは、スピードが数年前に比べ大幅に向上しています。数多くの新しいバスが導入される中で、設計技術者はこれらの高速シリアルバスを設計に組込み、検証することが必要となります。Tektronix社では、現在は勿論、将来のシリアルバス規格にも対応するコンプライアンステストを実現するため、TekExpressコンプライアンス・テスト・オートメーション・フレームワークを開発しました。同フレームワークでは、様々なシリアルバス規格に対し製品を認証するのに必要な何百種類もの試験を開発し自動化できる各種ソフトウェアツールが用意されています。また同社では、「NI TestStand」（テスト管理ソフトウェア）を利用して、Tektronixシリアルデータテストベンチを使用したSATA Gen1/Gen2コンプライアンス・テストの自動化を実現するTekExpress SATA自動コンプライアンス・テスト・ソフトウェアの開発に成功しました。
TekExpressフレームワークの構築
Tektronix社では、TekExpressフレームワーク用に、複数の計測器や規格の変化、多様なバスに対応し、コンプライアンステストの時間短縮につながる処理スピードを実現できるテスト管理ソフトウェアを必要としていました。市販のソフトウェアの利用やカスタムソフトウェアの作成も検討しましたが、最終的に「NI TestStand」（テスト管理ソフトウェア）を選んだのは、前述のような条件を満たすことのできるオープンで柔軟なプラットフォームを備えていたためです。TekExpress開発チームは、NI TestStandを使用して、TekExpressフレームワークと複数の計測器の通信を容易にする一連の制御ライブラリを作成しました。それらの制御ライブラリを使用すると、各計測器の特定の通信・解析機能について知らなくても、計測器を制御することが可能です。その制御ライブラリは、被試験対象が特定の規格への適合性をテストするTekExpressコンプライアンステストオートメーションスクリプトの中で使用します。テストオートメーションスクリプトの実行にNI TestStandを使用したことで、Tektronix社はTekExpressシリアルATAコンプライアンステストソリューションでのコンプライアンステストにかかる時間を約70%短縮することに成功しました。
さらに、TekExpressコンプライアンス・テスト・オートメーションフレームワークには、テストシステムの操作をするための.NETベースのユーザインタフェースが組み込まれています。Tektronix社では、オープンプラットフォームのNI TestStandを使用して、見た目も使い勝手もTektronix独自のユーザインタフェースを開発しました。ユーザインタフェースはNI TestStand APIを使ってNI TestStand実行エンジンと通信を行い、コンプライアンステストオートメーションスクリプトを実行して、TekExpressシステムの状態をユーザインタフェースに反映します。またTekExpressシステムは、TekExpress対応のオープンAPIを用いて、2つめの自動テストシステムにより制御することも可能です。このAPIを使用すると、NI TestStand、「NI LabVIEW」（グラフィカル開発環境）、あるいはDLLが呼び出せる任意のプログラミング言語で作成したテストシステムでTekExpressシステムを制御し、より大きな自動テストシステムに統合することができます。
今後の展開
今後TekExpressフレームワークは、NI TestStand用に開発された多くのソフトウェアツールを使用します。またTekExpressシステムは、データ管理、トレーサビリティ、デバイス特性評価などさらに多くのツールとの統合も可能になります。
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