采用NI模块化仪器构建业界领先的RFID测试系统
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Author(s):
晖 邵 - 上海聚星仪器有限公司
柯 陈 - 上海聚星仪器有限公司
Industry:
ATE/Instrumentation, RF/Communications, Electronics, Consumer Goods
Products:
Modular Instruments, PXI/CompactPCI, Software
The Challenge:
RFID技术是从二十世纪90年代兴起的一项非接触式自动识别技术。近年来，RFID技术在国内外发展很快，许多世界著名厂商都生产RFID产品，且已被广泛应用于工业自动化、商业自动化、交通运输控制管理等众多领域。RFID的测试主要为射频测试，以验证产品的射频性能是否符合标准。作为无线通讯的新兴领域之一，RFID技术在具有无线通讯所共有的特性之外，又有着其独有的特殊性，如标准的多样化、需要实时应答等，目前主流的传统测试仪器制造商尚未推出针对RFID的协议层综测仪。
The Solution:
面对RFID测试领域的巨大需求以及相关测试仪器的匮乏，我们采用NI的模块化仪器，结合聚星在射频测试领域的技术专长，成功的构建了一套基于模块化仪器的RFID测试系统。
基于HOST的测试站适用于第一代RFID标签，采用矢量信号发生器（PXI-5671）和矢量信号分析仪（PXI-5660）作为射频仪器，并采用嵌入式控制器（PXI-8196）作为指令发生器和应答分析仪。
基于FPGA的测试站适用于第二代RFID标签，第二代超高频RFID标准需要在应答器和标签之间建立微秒级实时通讯，因此我们采用IF RIO结合上、下变频器来实现实时通讯过程，板载FPGA用于建立实时通讯，HOST处理器用于信号的后续分析。
"在NI模块化仪器结合虚拟仪器的构架上成功研制出了全球第一台拥有微秒级实时应答能力，且能进行完整的物理层及协议层测试的RFID测试系统。该系统在功能及性能上均处于业界领先地位。"
简介：
NI模块化仪器结合了紧凑的高性能硬件以及灵活的开发软件，通过选择合适的硬件模块并在标准的软件环境中定制测试程序，及可满足各种具体的应用要求，采用模块化仪器构建的系统比传统的仪器具有更高的灵活性、测量精度、数据吞吐量和同步特性。
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