IC芯片表面标识自动识别虚拟仪器系统的设计
Print
Author(s):
彪 杨 - 华中科技大学电子科学与技术系
Industry:
ATE/Instrumentation, Semiconductor, Imaging Equipment, Consumer Goods
Products:
Software, Machine Vision
The Challenge:
构建IC芯片表面标识自动识别系统，实现对芯片表面英文字母、数字以及厂商图标的识别
The Solution:
使用NI公司LabVIEW、IMAQ Vision、IMAQ Vision Assistant等软件配合PXI-1409图像采集、MBC-5051 CCD黑白相机等图像采集硬件构建IC芯片表面标识自动识别系统，实现对英文字母、数字以及厂商图标的识别
"我们使用LabVIEW、IMAQ Vision和IMAQ Vision Assistant等软件进行系统开发。LabVIEW特有的数据流式编程、IMAQ Vision强大的图像处理能力以及IMAQ Vision Assistant的代码自动生成功能极大地缩短了系统的开发周期、降低了成本。"
简介：
芯片表面标记自动识别技术是芯片制造技术不断高速发展的要求，其中芯片表面标识主要包括厂商图标、序列号（包括英文字母及数字）等。由于自动识别技术具有极其重要的意义，一直以来，人们都对该技术的研究投入了大量的人力物力，并取得了卓有成效的进展。它可以应用于芯片性能自动检测领域，提高芯片测试效率，进而提高厂商的生产能力，具有十分广阔的应用前景。
本系统使用NI的视觉系统开发工具构建，因而具有开发周期短、成本低等特点。系统综合运用了锐化、滤波、细化、特征识别等多种图像处理技术，成功地实现了从芯片自动跟踪定位、图像采集到图像预处理、骨架提取以及识别等一系列功能。
注：所有文章下载后需用Adobe Acrobat Reader(5.0或更高版本)浏览下载Adobe PDF reader
如果您需要印刷版的用户解决方案论文集，请在留言簿上登记，NI会尽快邮寄给您。欢迎您随时拨打免费电话与我们联络：800 8203622或点击“请NI工程师回电!”，马上申请NI测控专家的专业技术咨询！
Related Case Studies
虚拟仪器网络测控系统平台基于PXI的分布式网络测控系统
采用VC++和IMAQ Vision开发进网许可证扰码串号图像处理系统
基于LabVIEW和IMAQ Vision的三轴影像测量仪的开发与研制
基于LabVIEW 和 IMAQ Vision的三轴影像测量仪的开发与研制
|
|