福威科技 (Future Waves) 使用 NI LabVIEW 和 PXI 模組化儀器進行 DAB RF 量測

Author(s):
Simon Hsiao - Test Evaluation Manager, Future Waves PTE LTD

Industry:
RF/Communications

Products:
PXI/CompactPCI, Measurement Studio

The Challenge:
頻譜量測、單音 (single tone) 信號產生、DC量測、測量之後的數學運算、將儀器整合至一個機箱中（PXI 或其它）。

The Solution:
1.使用 NI 製作範例，以驗證晶片的輸入／輸出 2.修改 NI 範例程式，成為我們期待的應用程式，並記錄資料。

由於 FENIX14701 是一款 DAB 接收晶片，因此我們必須把焦點集中在 RF 參數測量。National Instruments 提供一個開放技術環境，讓使用者選擇要將那些元件整合至自己的應用程式中。這就是我們選擇它來開發我們的應用程式的原因。

圖一說明我們的硬體組態，包括 NI 儀器、固緯的電源供應器、IIC 控制板，與 FENIX14701 應用測試板。（請見圖一）

運用 NI Measurement Studio 函式庫，測量並產生功率與頻率

在軟體方面，我們使用 NI Measurement Studio for VS6.0 來開發與 C++ MFC 的 GUI 介面。為了開發測試程式，我們也必須安裝必要的 NI 儀器驅動程式，例如 RFSA、SMT、RFSG，與 NI-DAQMax…等。這些驅動程式提供的函式庫將被應用於我們的測試程式中。在設置軟體及硬體環境之後，我們可以參考 NI 的範例程式，將之轉換為合乎使用者需求的程式。舉例來說，我們可以使用 RFSAVC 範例程式，將它做為我們的程式中的一個子函式，便可以用它來測量頻域中的功率和頻率。這樣可以幫助我們收集相位雜訊資料等。

使用 NI 儀器時，我們不需要使用其它介面（例如 GPIB）來控制頻譜分析儀等其他儀器。我們認為 PXI 基本介面卡可以讓儀器的體積縮小，也配合我們的需求。

藉由 NI 系統，開發測量項目來檢查晶片功能，助於收集到比傳統機器更多的資料

我們可以使用這個程式來執行以下工作：

1. 選擇測試項目及取消選擇
2. 將測試值記錄至指定的檔案
3. VDD 電壓值控制與調整
4. IIC 暫存器 (Register) 的接收及發送
5. FENIX Chip 各 pin 腳 DC 電壓測量
6. 數位時脈的頻率測量
7. VCO 頻率、電力及相位雜訊測量
8. Band3/LBand/FM RFAGC/BaseBandAGC 測量，使用不同的輸入電功率來測量 IF 輸出或基頻 (Baseband) 輸出的變化
9. Band3/LBand/FM 系統數據測量
10. 其它測試項目

在開發測試程式之前，我們也可以使用 NI 軟體人機介面進行基本的檢查。這個過程就像手動控制機器。使用者可以控制電源的電壓、輸入／輸出 RF 開關來控制 RF 訊號、IIC 暫存器控制、調整頻譜測量組態，以及訊號產生器的組態。

藉由使用NI系統，我們可以選擇及開發測量項目來檢查晶片功能。同時，自動測試程式可以減少手動測試的時間。舉例來說，我們將 FM 分成 844 個通道。我們無法手動來測量這些通道，但是可以使用自動測試程式掃瞄所有通道的相位雜訊、頻率及漏電功耗，以及了解 VCO 的效能。這樣有助於我們收集到比傳統機器更多的資料。

目前正運用的 NI 產品特殊功能：

1. Measurement Studio 函式庫，用於測量功率與頻率
2. Measurement Studio 函式庫，用於產生特定的功率與頻率
3. 整合 Microsoft Visual C++ 和 NI 函式庫，為使用者提供彈性的環境

導入 NI 產品實質效益：

1. 更換手動控制頻譜及訊號產生器，減少測試時間。
2. 減少手動測量 DC 電壓值的測試時間。
3. 從手動記錄改為自動記錄，減少測試記錄。

Author Information:
For more information on this Case Study, contact:
Simon Hsiao
Test Evaluation Manager, Future Waves PTE LTD
Tel: (02)2799-8108

Browse All Case Studies »